石墨线，石墨导电的原理是什么

本文目录一览

1，石墨导电的原理是什么
2，石墨能不能作电线
3，碳线和尼龙线哪个更好一些
4，石墨接地线是什么材质
5，什么是热膨胀系数
6，高压电塔下面为什么要安装石墨线
7，关于石墨X射线衍射图的几个问题

1，石墨导电的原理是什么

石墨导电的原理：石墨是元素碳的一种同素异形体，每个碳原子的周边连结着另外三个碳原子（排列方式呈蜂巢式的多个六边形）以共价键结合，构成共价分子。由于每个碳原子均会放出一个电子，那些电子能够自由移动，因此石墨属于导电体。简介：石墨是其中一种最软的矿物，它的用途包括制造铅笔芯和润滑剂。碳是一种非金属元素，位于元素周期表的第二周期IVA族。存在形式：碳的存在形式是多种多样的，有晶态单质碳如金刚石、石墨；有无定形碳如煤；有复杂的有机化合物如动植物等；碳酸盐如大理石等。单质碳的物理和化学性质取决于它的晶体结构。高硬度的金刚石和柔软滑腻的石墨晶体结构不同，各有各的外观、密度、熔点等。石墨由于其特殊结构，而具有如下特殊性质：1. 耐高温性：石墨的熔点为3850±50℃，沸点为4250℃，即使经超高温电弧灼烧，重量的损失很小，热膨胀系数也很小。石墨强度随温度提高而加强，在2000℃时，石墨强度提高一倍。2. 导电、导热性：石墨的导电性比一般非金属矿高一百倍。导热性超过钢、铁、铅等金属材料。导热系数随温度升高而降低，甚至在极高的温度下，石墨成绝热体。石墨能够导电是因为石墨中每个碳原子与其他碳原子只形成3个共价键,每个碳原子仍然保留1个自由电子来传输电荷。3. 润滑性：石墨的润滑性能取决于石墨鳞片的大小，鳞片越大，摩擦系数越小，润滑性能越好。4. 化学稳定性：石墨在常温下有良好的化学稳定性，能耐酸、耐碱和耐有机溶剂的腐蚀。5. 可塑性：石墨的韧性好，可碾成很薄的薄片。6. 抗热震性：石墨在常温下使用时能经受住温度的剧烈变化而不致破坏，温度突变时，石墨的体积变化不大，不会产生裂纹。

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2，石墨能不能作电线

能，在很多PCB上比如家电遥控器的PCB过线就是使用的印制碳线，主要成份就是石墨。还有电子琴的键盘下边的过线也是。使用石墨线的好处就是薄，板面几乎就是平的，不影响上边导电橡胶的安放。回david_oy：电线有好多种的，不一定非要做成带皮的线才能叫电线，像印制电路板上的跨线本身就是导电的线，为什么不能称为电线呢？

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3，碳线和尼龙线哪个更好一些

各有优缺点，需要看用法来进行选择。碳线：比重大，切水好，硬，耐磨，延展小，透明度高，强度略逊于尼龙。尼龙线：是现在钓线的主流，强度高，切水也可以做得很好，较柔软。碳线简介：柔性石墨线是用膨胀石墨分别与各种纤维及金属丝等增强材料，加入粘合剂而加工制成。可和于编织不同类型的柔性石墨编织填料。柔性石墨线是用膨胀石墨通过高压瞬间进入高温800℃-1100℃的膨化炉中，由于吸留在层形点阵中化合物的分解，体积任意膨胀160倍至280倍，变成密度很底的蠕虫状，加入沾合剂与不同的天然纤维如：棉纱、玻璃纤维和碳化纤维等增强材料，经过复合机复合、切条等工序成条状，进入纺线机纺织而成。为适应不同的工况条件，可夹入镍合金丝、不锈钢丝和铜丝等金属材料，经特定工艺流程制成各类增强柔性石墨线，供编织不同效果的柔性石墨盘根。尼龙线简介：尼龙材质纱线捻合而成，生产出来的线有一定拉伸力、拉力较强、有光泽、耐高温、高速、主要适用于皮革类缝纫用，如：鞋业、包袋业、沙发业等。尼龙线是适用最为普通的皮革缝纫线。

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碳素线和尼龙线的区别，以后别再用错了

前面网友说的不确切：碳线的强度不会高于尼龙线，相反，还低于尼龙的。我测量过N多的碳线和尼龙线，没有一款碳线的强度会超过高档尼龙线。钓友之所以会认为碳线的强度大，是因为碳线比较耐磨，在钓罗非鱼时，有比较出色的表现。碳线比重大，切水好，硬，耐磨，延展小，透明度高，强度略逊于尼龙。主要用于海钓和南方钓罗非尼龙线是现在钓线的主流，强度高，切水也可以做得很好，较柔软。道系和子线：除了强度方面的共同要求，道系要求无延展，切水好，耐磨耐久性更好，可以稍硬；子线要求柔软，抗卷曲。对了，补充一下：我是专业做渔线的。所有钓鱼刊物或网上，关于钓线的研究文章，大约有一半是我原创的（很多是被人转载）。更多关于钓线的更多内容，见拙作《定龙钓线指南》，我的百度空间有下载。

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4，石墨接地线是什么材质

升泰石墨接地线，采用高炭玻纤石墨线制造，与杆塔连接的连接端头采用不锈合金，非金属导电体，耐腐蚀、不生锈、接地电阻稳定、大电流冲击不反击、不损坏、电阻不变、耐高低温、使用寿命长50年，免维护、安全可靠。使用不受环境，气候条件限制，安装便捷，无需电气焊，省工省时，节省材料，经费，节能，环保，防盗，尤其适合酸性土壤、碱性土壤、沼泽、湿热地带和海滩使用。主要技术指标、1、固态电阻率：0.06Ω.m2、冲击电流耐受:（200KA）ΔR%≤03.工频电流耐受：ΔR%≤04、高温性能：300℃ 5、低温性能：-60℃ 6、抗压强度：≥1200Mpa7、抗拉强度：≥1200Mpa8、石墨线层表面摩斯硬度：1-29、埋地表面年平均腐蚀率：0

5，什么是热膨胀系数

原发布者:99v热膨胀系数（Coefficientofthermalexpansion，简称CTE）是指物质在热胀冷缩效应作用之下，几何特性随着温度的变化而发生变化的规律性系数。实际应用中，有两种主要的热膨胀系数，分别是：线性热膨胀系数：体积热膨胀系数：大多数情况之下，此系数为正值。也就是说温度升高体积扩大。但是也有例外，当水在0到4摄氏度之间，会出现反膨胀。而一些陶瓷材料在温度升高情况下，几乎不发生几何特性变化，其热膨胀系数接近0。

线膨胀系数亦称线胀系数。固体物质的温度每升高1℃时，其单位长度的伸长量，叫做“线膨胀系数”。单位为1/℃或1/开。符号为αl。线膨胀系数是物理名词，有时也称为线弹性系数，表示材料膨胀或收缩的程度。分为某一温度点的线膨胀系数和某一温度区间的线膨胀系数，后者称为平均线膨胀系数。前者是单位长度的材料每升高一度的伸长量；平均线膨胀系数是单位长度的材料在某一温度区间，每升高一度温度的平均伸长量。另外，材料的热膨胀性能在航空航天、新材料开发等高新技术领域，及石油化工、建筑节能、制冷空调等领域都有明显的科学意义和重要的工程应用价值，是科学研究的基础。扩展资料：线膨胀系数的影响因素：线膨胀系数测量过程受到多种因素的影响，试样的加工工艺方法和形状尺寸的差异是造成热膨胀系数偏差大的主要原因。另外，在测量过程中，环境因素的影响包括室温、震动、噪音、辐射等都会使测量结果发生变化。因此只有综合考虑热膨胀系数的影响因素才能有效提高线膨胀系数测量的准确度。参考资料来源：百度百科-线膨胀系数

物体由于温度改变而有胀缩现象。其变化能力以等压(p一定)下，单位温度变化所导致的体积变化，即热膨胀系数表示　　热膨胀系数有体膨胀系数β和线膨胀系数热α。 http://baike.baidu.com/view/61695.htm

物体由于温度改变而有胀缩现象。其变化能力以等压(p一定)下，单位温度变化所导致的体积变化，即热膨胀系数表示　　热膨胀系数α=ΔV/(V*ΔT).　　式中ΔV为所给温度变化ΔT下物体体积的改变，V为物体体积　　严格说来，上式只是温度变化范围不大时的微分定义式的差分近似；准确定义要求ΔV与ΔT无限微小，这也意味着，热膨胀系数在较大的温度区间内通常不是常量。　　温度变化不是很大时，α就成了常量，利用它，可以把固体和液体体积膨胀表示如下：　　Vt=V0(1+3αΔT)，　　而对理想气体，　　Vt=V0(1+0.00367ΔT)；　　Vt、V0分别为物体末态和初态的体积　　对于可近似看做一维的物体，长度就是衡量其体积的决定因素，这时的热膨胀系数可简化定义为：单位温度改变下长度的增加量与的原长度的比值，这就是线膨胀系数。　　对于三维的具有各向异性的物质，有线膨胀系数和体膨胀系数之分。如石墨结构具有显著的各向异性，因而石墨纤维线膨胀系数也呈现出各向异性，表现为平行于层面方向的热膨胀系数远小于垂直于层面方向。　　宏观热膨胀系数与各轴向膨胀系数的关系式有多个，普遍认可的有Mrozowski算式：　　α=Aαc+(1-A)αa　　αc,αa分别为a轴和c轴方向的热膨胀率，A被称为“结构端面”参数

物体由于温度改变而有胀缩现象。其变化能力以等压(p一定)下，单位温度变化所导致的体积变化，即热膨胀系数表示　　热膨胀系数α=δv/(v*δt).　　式中δv为所给温度变化δt下物体体积的改变，v为物体体积　　严格说来，上式只是温度变化范围不大时的微分定义式的差分近似；准确定义要求δv与δt无限微小，这也意味着，热膨胀系数在较大的温度区间内通常不是常量。　　温度变化不是很大时，α就成了常量，利用它，可以把固体和液体体积膨胀表示如下：　　vt=v0(1+3αδt)，　　而对理想气体，　　vt=v0(1+0.00367δt)；　　vt、v0分别为物体末态和初态的体积　　对于可近似看做一维的物体，长度就是衡量其体积的决定因素，这时的热膨胀系数可简化定义为：单位温度改变下长度的增加量与的原长度的比值，这就是线膨胀系数。　　对于三维的具有各向异性的物质，有线膨胀系数和体膨胀系数之分。如石墨结构具有显著的各向异性，因而石墨纤维线膨胀系数也呈现出各向异性，表现为平行于层面方向的热膨胀系数远小于垂直于层面方向。　　宏观热膨胀系数与各轴向膨胀系数的关系式有多个，普遍认可的有mrozowski算式：　　α=aαc+(1-a)αa　　αa,αc分别为a轴和c轴方向的热膨胀率，a被称为“结构端面”参数。

热膨胀系数是用来衡量材料热胀冷缩的幅度的一种指标。常用的数据有两种类型，一种称为线膨胀系数，具体定义为“温度变化一度，材料单位长度伸长量的百分数”；另一种称为体膨胀系数，具体定义为“温度变化一度，材料单位体积膨胀量的百分数”。

6，高压电塔下面为什么要安装石墨线

为了把电导到地上，以防意外发生。石墨线的性质：1、降阻性：由于石墨接地线是一种良好的导电体，将它施用手土壤紧密接触，护大散流截面积，降低与土壤间的接触电阻。2、防腐性：石墨线是碳纤维石墨制作，无腐蚀。3、渗透性：由于石墨接地线在施工过程中向周围土壤孔隙中渗透，降低周国土壤电阻率，在石墨线四周形成一个电阻率变化平缓的低电阻区域使整个地网接地电阻显著降低。4、稳定性：石墨接地线有很好的冲击特性，能耐受工频电流及冲击电流影响变化。而且还具有良好的均压作用，改善电位分布，从而降低跨步电压和接触电压，保证人身安全。5、安全性：该石墨接地线经环保部门对生产流程、工艺、样品和使用场所进行严格检测，结果证实降阻剂在生产过程中无污染，对工人身体健康无危害。石墨接地线本身不含铅、砷等有害、有毒元素，在使用过程中对周围环境和地下水资源无污染、无毒性、安全可靠。6、长效性：该石墨接地线含有独特的水份吸附剂，能有效防止雨水季节和千燥季节接地电阻受气候变化的影响。

7，关于石墨X射线衍射图的几个问题

解析X射线衍射谱图中，d是晶体晶格中相邻两个晶面的面间距，一般以埃为单位。晶体的空间结构可以用三轴坐标系表示，也可以用四轴定向表示，尤其是三方、六方晶系用四轴定向表示有其独到的便利。在三轴定向中，在不同晶向，相邻两个晶面间的晶面间距都可以用d表示。d的脚标用其所描述的正点阵或倒易点阵的相应晶面指标(hkl)表示。如：d(100),d(020),d(002),等。关于d值意义及X射线衍射原理及应用，请见我的另一些回答： http://wenwen.sogou.com/z/q700227329.htm 等。要对X射线衍射谱图解析和对d有透彻的了解，还应该具备：点阵、倒易点阵、点阵指标、晶向指标[uvw]、晶面指数或点阵平面指数（hkl）的知识。我关于倒易点阵的回答请见：http://wenwen.sogou.com/z/q822329180.htm 关于晶面指数请见我的一个回答：http://wenwen.sogou.com/z/q822328725.htm 在研究石墨状微晶、多晶石墨或碳纳米管、碳纤维等类石墨结构等材料的X射线衍射测定中，发现石墨、类石墨晶体结构的X射线衍射谱的峰并不多。常用d002代表石墨状微晶的平均层层间距；用Lc表示微晶层面沿c轴方向（有时刚好也就是002晶面指数，可以使用 002 峰参数进行计算）的堆积厚度；用La表示沿a轴方向的微晶宽度或直径等面间距，使用100峰或110峰（要视具体晶体而定）进行计算。我个人认为，对于晶体或部分晶体样品的X射线衍射谱解析讨论中，三个晶向上的晶面间距都可以用d表示之，而不论它是否经过拉伸或加温处理而改变晶格结构与否，它都是作为一个一个晶体样品、晶体对象存在的。但如果在一个系列中，主要研究点是通过加力、加温而使晶体发生变化，再用d表示三轴方向上的面间距就不如使用另一些字母以显示其特点而避免与常规面间距d混淆，La,Lc就是这样应运而生了。 X射线衍射分析，是以布拉格定律（公式）为基础的。布拉格公式： 2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长（Cuka 波长为0.15406nm，Cuka1 波长为0.15418nm。）n为任何正整数，并相应称为n级衍射。θ是掠射角(也称布拉格角，是入射角的余角)，2θ才是衍射角。当X射线以掠射角θ入射到某一点阵平面间距为d的原子面上时,在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布拉格定律简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线)，采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中，从每一个θ角符合布拉格条件的反射面得到反射。测出θ后，利用布拉格公式即可确定点阵平面间距、晶胞大小和类型；根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布状况。这便是X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动（即θ不变）,以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格条件,故选用连续X射线束。如果利用结构已知的晶体，则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算X射线的波长，从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。微晶尺寸由Bragg 公式 d=λ/(2sinθ) 和Scherrer 公式 L=kλ/（βcosθ）计算, 在计算微晶尺寸时我们经常引用到scherrer公式. 谢乐方程（Scherrer公式）也写成：d(hkl)=kλ/(βcosθ), 其中，d(hkl)是沿垂直于晶面（hkl）方向的晶面间距或晶粒直径，k为Scherrer常数（通常为0.89，有时也取1或0.9）， λ为入射X射线波长（Cukα波长为0.15406nm，Cuka1 波长为0.15418 nm。），θ为布拉格角（°），2θ才是衍射角；β为衍射峰的半高峰宽（rad）。根据X射线衍射理论，在晶粒尺寸小于100nm时，随晶粒尺寸的变小衍射峰宽化变得显著，考虑样品的吸收效应及结构对衍射线型的影响，样品晶粒尺寸可以用谢乐方程公式计算。计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线来代替。此式适用范围为1-100nm。但是在实际操作中如何从一张普通的XRD图谱中获得上述的参数来计算晶粒尺寸还存在以下问题： 1) 首先，用XRD计算晶粒尺寸必须扣除仪器宽化和应力宽化的影响。如何扣除仪器宽化和应力宽化影响？在什么情况下，可以简化这一步骤？答：在晶粒尺寸小于100nm时，应力引起的宽化与晶粒尺度引起的宽化相比，可以忽略不计。此时，Scherrer公式是适用的。但晶粒尺寸大到一定程度时，应力引起的宽化比较显著，此时必须考虑引力引起的宽化影响，Scherrer公式不再适用。 2) 通常获得的XRD数据是由Kα线计算得到的。此时，需要把Kα1或Kα2进行分离并扣除掉一个、保留一个；如果没扣除，就会造成计算误差。 3) 扫描速度也有影响，测试时扫描要尽可能地缓慢。一般设定2°/min。 4)一个样品可能有很多衍射峰，是计算每个衍射峰对应晶粒尺寸后平均? 还是有其它处理原则？答：通常应当计算每个晶向方向的所有衍射峰晶粒尺寸后进行平均。当然在某个方向上只有一个明确归属的峰时，就没有必要强求从多峰的结果中求平均了！ 5) 半高宽、样品宽化和仪器宽化：样品的衍射峰加宽可以用半高宽来表示，样品的半高宽FWHM是仪器加宽FW（I）和样品性质（晶块尺寸细化和微观应力存在）加宽FW（S）的卷积。为了求得样品加宽FW（S），必须建立一个仪器加宽FW（I）与衍射角θ之间的关系，也称为FWHM曲线。该曲线可以通过测量一个标样的衍射谱来获得。标样应当与被测试样的结晶状态相同，标样必须是无应力且无晶块尺寸细化的样品，晶粒度在25μm以上，如标样NISTA60Si和LaB6等。